【仪器上新】天津大学分析测试中心微晶电子衍射场发射透射电镜试运行通知

1.仪器介绍

生产商：日本电子

型号：JEM-F200

JEM-F200微晶电子衍射场发射透射电镜采用冷场发射枪，配有HAADF附件，可进行材料微观结构分析：拍摄TEM明场像、暗场像、高分辨像、电子衍射、二次电子像及扫描透射像；

2.技术参数

1）电子枪：冷场发射电子源；

2）放大倍数：TEM模式下，20k-2000k；STEM模式下，10k-150M;

3）TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV；

4）STEM-HAADF点分辨率：0.136 nm@200 kV；

3.样品要求

本电镜不接受易挥发样品、磁性样品、液态样品及含有液体物质的样品

4.试运行收费标准

300元/小时

5.测试时间和地点

天津大学卫津路校区17教127室

预约工作时间测试；或培训后可预约非工作时间段测试

联系人：林奎      

联系电话：13821784328，微信同号