【仪器上新】天津大学材料学院大型仪器平台JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪开放运行通知

　　电子探针显微分析仪

　　材料学院大型仪器管理平台配有JEOL公司最新的JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪(EPMA)。该设备通过电子束作用于试样微区上产生二次电子、背散射电子及X射线等信号，通过波长色散X射线谱仪(WDS)对特征X射线进行分光和强度测定，得到微区的元素组成及元素浓度分布。

　　仪器型号：JXA-iHP200F

　　实验室地点：31-107

　　联系电话：15222131955

　　仪器收费：400 元/h(校内)，600 元/h(校外)

　　主要功能：

　　1. 金属和非金属材料的化学组成定性和定量点分析

　　2. 金属和非金属材料的化学组成定性和定量线分析

　　3. 金属和非金属材料的化学组成定性和定量面分析

　　4. 金属和非金属材料的痕量元素分析

　　5. 金属和非金属材料的化学价态分析

　　6. 金属和非金属材料的高分辨二次电子像、背散射电子像、相分析、实时能谱分析、能谱/波谱一体化分析、有标样和无标样定量分析

　　应用范围：

　　分析元素范围：5B - 92U

　　应用领域：

　　材料科学、微电子学、冶金学、生物化学、地球化学、矿物学、地质年代学等。

　　技术规格：

　　空间分辨率：好于0.1 μm;图像放大倍数：×40 ~ ×300,000;加速电压：1 ~ 30 kV(步长：0.1 kV);束流范围：10-12 ~ 3×10-6 A;束斑尺寸：≤ 20 nm(10 kV，10 nA，工作距离11 mm);分析精度：好于1% (主元素, 含量 >5%)和5%(次要元素，含量 ~1%)

　　样品要求：

　　1. 固体

　　2. 导电(不导电或导电性低的样品可在31-107进行喷碳)

　　3. 直径5 μm ~ 36 mm，高度 < 20 mm，厚度 > 5 μm

　　4. 表面平整(块体样品建议进行表面抛光，粉末样品需镶样并进行表面抛光)

　　电子探针显微分析仪应用实例