电镜类仪器
双球差校正透射电子显微镜
设备型号:JEM-ARM300F2
仪器品牌:日本电子
放置区域:58楼ACE区地下一层B135室
技术参数
1.TEM晶格分辨率：50pm@300kV； 2.STEM点分辨率：53pm@300kV；63pm@200kV；96pm@80kV； 3.能谱仪（EDS）能量分辨率：136 eV； 4.EELS能量分辨率：0.35eV。
功能特色
配有先进的十二极子球差矫正器(COSMO)，具有聚光镜和物镜球差校正功能，达到目前世界最高水平的空间分辨率； 配有双探测器超级能谱仪(EDS)（探测面积316mm2），能够在任意样品倾角下实现快速高精度的EDS 分析； 配有Clear View相机和1065 GIF系统，可进行元素成分和价态的EELS谱学分析，可实现快速的能量过滤像EFTEM； 配有三维重构成像系统，可实现纳米材料的三维原子成像； 可在40kV下观察易损伤样品； 结合原位样品杆，可实现气氛、液相、高温和电压等外场下材料原子尺度晶体结构的实时观察。
应用领域
1. 可进行组织分析，拍摄明场像、暗场像、高分辨像，扫描透射高角环形暗场像； 2. 可进行选区电子衍射和会聚束衍射，分析微区晶体结构、样品厚度以及材料应变场；