场发射透射电镜

JEM-F200场发射透射电镜

　　地点：58楼ACE区B148

　　超高分辨极靴

　　分辨率

　　TEM点分辨率 0.19 nm

　　STEM-HAADF像 0.14 nm @冷场枪

　　加速电压 200 , 80 kV

　　自动插入和拔出样品杆的装置

　　同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器(SDD)