电镜类仪器
场发射透射电子显微镜
设备型号:JEM-F200
仪器品牌:日本电子
放置区域:58楼ACE区地下一层B148室
技术参数
1.TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV； 2.STEM-HAADF点分辨率：0.16 nm@200 kV； 3.电子枪：冷场发射电子源； 4.放大倍数：TEM模式下：20 k-2000 k； STEM模式下：10 k-150 M； 5.能谱仪（EDS）能量分辨率：136 Ev
功能特色
1.可进行微观结构分析，拍摄TEM明场像、暗场像、高分辨像、及扫描透射像； 2.可进行选区电子衍射、会聚束衍射及纳米束电子衍射，分析微区晶体结构、对称性、位错及材料应变场； 3.搭载冷场发射电子枪，分辨率可达0.1 nm； 4.能够实现自动进出样品杆； 5.配有双探头超级能谱仪（探头面积200 mm2），能够在任意样品倾角下实现快速高精度的EDS成分分析； 6.配备3D重构成像系统，可获得样品的三维形貌信息。 7.配备多种原位样品杆，可实现气相、液相、高温和电压等外场作用下的原位电镜研究。
应用领域
材料科学、生物学、化学工程