场发射透射电镜

Talos F200X 场发射透射电镜

　　地点：58楼ACE区B149

　　电子枪类型：高稳定度的肖特基场发射电子枪

　　线分辨率：≤ 0.204 nm

　　STEM：0.16 nm

　　具有出色的高分辨率STEM和TEM成像

　　采用独特清洁度的4个柱内 SDD Super-X探头

　　配备电子能谱量损失谱仪